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CCI光學(xué)裝置融合先進的工程設(shè)計與專業(yè)軟件，滿足光學(xué)領(lǐng)域嚴(yán)苛的測量需求。其2048×2048像素陣列提供大視場與高分辨率，全量程分辨率高達0.1埃，RMS重復(fù)精度<0.2埃，臺階高度重復(fù)精度<0.1%，支持0.3%–100%寬范圍反射率表面測量。非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描（2.2mm行程，可拼接至100mm）結(jié)合FEA優(yōu)化結(jié)構(gòu)，確保高穩(wěn)定性和精度。系統(tǒng)具備自動表面檢測與自診斷功能，避免碰撞、降低維護成本，操作簡便，減少人為誤差。64位多語言分析軟件（含中文、日文等）支持跨平臺協(xié)作，提供3D/4D表面分析、薄膜厚度測量及批量報告生成功能，并通過ISO校準(zhǔn)，保障數(shù)據(jù)可信度。堅固耐用的設(shè)計兼顧高性能與長期成本效益，是光學(xué)計量的理想工具。