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FISCHERSCOPE X - RAY XUL 系列是緊湊、多功能的 XRF 測(cè)量設(shè)備，適用于非破壞性涂層厚度測(cè)量和材料分析。其 X 射線管和探測(cè)器系統(tǒng)位于測(cè)量臺(tái)下部，測(cè)量方向從下往上，這為測(cè)量各種不同幾何外形的小工件提供了便利。例如螺絲、螺母、螺栓或各類電連接器等小工件，多數(shù)情況下可直接將其表面放置于測(cè)量臺(tái)上，避免了從上往下測(cè)量系統(tǒng)中需要的測(cè)量距離調(diào)整，測(cè)試點(diǎn)會(huì)自動(dòng)調(diào)整至正確距離，加快了測(cè)量過程，還避免了因工件定位不佳造成的測(cè)量誤差。

該系列儀器通過集成的比例計(jì)數(shù)管檢測(cè)器，可進(jìn)行快速測(cè)量，尤其適用于大測(cè)量距離和復(fù)雜形狀的樣品，即便測(cè)量點(diǎn)很小也能高效完成測(cè)量。同時(shí)，XUL 系列具備出色的精確性和長期穩(wěn)定性，明顯減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。依靠菲希爾的基本參數(shù)法，可在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下，分析固、液態(tài)樣品的成分并測(cè)量樣品的鍍層厚度。